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文物史料


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  • 中文名稱 ： 雷射探頭模組
  • 雷射探頭模組,共0張圖片
  • 文物詳細資料
    • 功能 / 用途：
      量測範圍為0 mm至20 mm 、解析度1um 。
      此設備可提供精密的位移量測資訊，使用於精密量測儀器可進行精密的位移量測。
    • 特色：
      利用分光鏡將雷射光分成參考與量測兩束光路，投射於反射鏡反射回來的雷射光束重合後產生干涉干涉條紋影像。藉由探頭帶動量測光束接觸待測工件時兩光束之光程差，可求得探頭的位移量並計算求得工件的長度。
    • 尺寸：
      45 cm X 36 cm X 16 cm
    • 類別：
      檢驗
    • 製造者：
      SIOS
    • 製造地(國家)：
      德國
    • 完成年代：
      民國 88 年