- 中文名稱 ： 微波雜訊標準件校正系統
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- 文物詳細資料
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功能 / 用途：微波雜訊量測系統之服務參數為ENR(過量雜訊比)，其原理係透過熱雜訊與冷雜訊之溫度差異及微波阻抗之不匹配性，進行比對量測。10~26.5GHz ，頻率：10 MHz～18 GHz， 過量雜訊比：4 dB～16 dB
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特色：微波雜訊標準件校正系統(Noise Figure Measurements System)的微波雜訊量測系統之服務參數為 ENR(過量雜訊比)，其原理係透過熱雜訊與冷雜訊之溫度差異及微波阻抗之不匹配性，進行比對量測。此設備代表台灣早期度量衡相關量測工具與量測產業發展器具，見證民國80-90年代我國量測用科技文化產業發展技術與產業之演變，具有歷史價值，表徵產業發展的文物，可做為我國度量衡相關量測工具與科技文化資產之研究。
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尺寸：64 cm X 67 cm X 91 cm
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類別：標準
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製造者：HP
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完成年代：1992
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