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  • 中文名稱 ： X光繞射儀
  • X光繞射儀,共1張圖片
  • 文物詳細資料
    • 功能 / 用途：
      使用X射線照射到結晶體會發生繞射作用，常用於分析各種礦物、材料等相的組成及微觀結構觀察；而繞射峰強度與樣品中某結晶體含量相關，供定量分析之用。
    • 特色：
      美國THERMAL製造X光繞射儀係使用X射線照射到結晶體會發生繞射作用，常用於分析各種礦物、材料等相的組成及微觀結構觀察；而繞射峰強度與樣品中某結晶體含量相關，供定量分析之用。商品管理機關檢驗設備。X光繞射(XRD)是用來決定固體晶體結構的工具，利用布拉格定律(Bragg's Law)，不同的晶體結構晶面間距會有所差異，而有不同組合之繞射角，XRD提供繞射峰位置及繞射峰強度等重要資訊，令一束X射線和樣品交互，用生成的衍射圖譜來分析物質結構。它是在X射線晶體學領域中在原子尺度範圍內研究材料結構的主要儀器，也可用於研究非晶體。每個晶體均不同，如同人類指紋，因此可用於鑑別材料結晶結構與其組成。
    • 尺寸：
      122 cm X 100 cm X 200 cm
    • 類別：
      標準
    • 製造者：
      THERMAL
    • 製造地(國家)：
      美國
    • 完成年代：
      2011
    • 取得來源：
      捐贈