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  • 中文名稱 : 雷射干涉儀
  • 雷射干涉儀,共0張圖片
  • 文物詳細資料
    • 功能 / 用途:
      線距校正系統用。量測範圍:250 mm;解析度:0.08 nm;波長穩定度:0.01 ppm;波長不確定度:0.1 ppm;非線性度:2 nm。
    • 特色:
      國家度量衡標準實驗室目前已建立了15項領域量測標準,分別為:(1)電磁標準 (2)光學標準 (3)微波標準 (4)溫度標準 (5)濕度標準 (6)化學標準 (7)振動標準 (8)聲量標準 (9)長度標準 (10)質量標準 (11)真空標準 (12)力量標準 (13)壓力標準 (14)流量標準 (15)電量標準。

      此物件屬於長度標準的領域。國家度量衡標準實驗室之長度標準已完成碘穩頻紅光氦氖雷射,建立原級標準,與國際同步。建立端點、尺寸等角度的實體之量測標準,可提供塊規、線刻度、環塞規、真圓度、表面粗糙度、經緯儀、電子測距儀等主要標準儀/具之校正或量測服務,並可輔導業界從事實驗室能量規劃、線上量測、及技術能力之提升。物件移撥前由「標準與法定計量技術發展組」下之「奈米與力學研究室」使用及保管。
    • 尺寸:
      48 cm X 41 cm X 6 cm
    • 類別:
      度量衡
    • 製造者:
      SIOS
    • 製造地(國家):
      德國
    • 完成年代:
      2000
    • 取得來源:
      工研院量測中心