- 中文名稱 ： 計量型原子力顯微頭
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- 文物詳細資料
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功能 / 用途：表面形貌量測用探針 Pitch size ranges from 100 nm to 10 μm
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特色：計量型原子力顯微頭(Metrological Atomic Force Microscope)的功能為表面形貌量測用探針，Pitch size ranges from 100 nm to 10 μm。為美國製造，製造商為台灣威科儀器製造。 其原理為掃描顯微鏡上之探針，藉由三軸壓電陶瓷之作動，進行掃描光柵待校件之表面形貌圖像。後續再藉由光柵圖像進行線距分析。此設備代表台灣早期度量衡相關量測工具與量測產業發展器具，見證80年代我國量測用科技文化產業發展技術與產業之演變，具有歷史價值，表徵產業發展的文物，可做為我國度量衡相關量測工具與科技文化資產之研究。
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尺寸：4 cm X 3 cm X 5 cm
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類別：檢驗
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製造者：台灣威科儀器
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製造地(國家)：美國
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完成年代：1999
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