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  • 中文名稱 : X光繞射儀
  • X光繞射儀,共0張圖片
  • 文物詳細資料
    • 功能 / 用途:
      使用X射線照射到結晶體會發生繞射作用,常用於分析各種礦物、材料等相的組成及微觀結構觀察;而繞射峰強度與樣品中某結晶體含量相關,供定量分析之用。
    • 特色:
      美國THERMAL製造X光繞射儀係使用X射線照射到結晶體會發生繞射作用,常用於分析各種礦物、材料等相的組成及微觀結構觀察;而繞射峰強度與樣品中某結晶體含量相關,供定量分析之用。商品管理機關檢驗設備。X光繞射(XRD)是用來決定固體晶體結構的工具,利用布拉格定律(Bragg's Law),不同的晶體結構晶面間距會有所差異,而有不同組合之繞射角,XRD提供繞射峰位置及繞射峰強度等重要資訊,令一束X射線和樣品交互,用生成的衍射圖譜來分析物質結構。它是在X射線晶體學領域中在原子尺度範圍內研究材料結構的主要儀器,也可用於研究非晶體。每個晶體均不同,如同人類指紋,因此可用於鑑別材料結晶結構與其組成。

      122 100 200
    • 尺寸:
      122 cm X 100 cm X 200 cm
    • 類別:
      檢驗
    • 製造者:
      THERMAL
    • 製造地(國家):
      美國
    • 完成年代:
      2011
    • 取得來源:
      捐贈